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等離子體發射光譜測量系統
產品簡介

該系統用于測量等離子體發射光譜測量，采用模塊化設計 采用光纖導光或空間光耦合

產品型號：OmniES-Plasma
更新時間：2024-05-20
廠商性質：生產廠家
訪問量：3293
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 ● 該系統用于測量等離子體發射光譜測量，采用模塊化設計
● 采用光纖導光或空間光耦合
● 可定位測量空間位置（選配功能）
● 測量光譜范圍：200-2500nm或1μm-14μm
● 光譜分辨率：優于0.05nm（@1200g/mm光柵）
● 波長準確度：優于±0.2nm
● 波長重復性：優于±0.1nm
● 光譜儀控制軟件包含濾光片輪自動控制功能、光譜曲線繪制功能、全自動測量、數據運算、保存及打印等功能
 

 

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